Da matriz ao ultratraço
O sistema cobre mais de 12 ordens de grandeza em uma única plataforma, com comutação automática entre modos de detecção.
Thermo Scientific · GD-MS de alta resolução
ELEMENT GD Plus: traços e ultratraços diretamente no sólido
Análise multielementar direta de materiais sólidos de alta pureza, com alta resolução de massa, ampla faixa dinâmica e produtividade para rotina e pesquisa.
THERMO SCIENTIFIC
Diferenciais analíticos
Sensibilidade e seletividade sem dissolver o sólido
A plataforma foi projetada para materiais avançados e de alta pureza que exigem limites de detecção muito baixos, grande faixa dinâmica e resultados multielementares.
Alta resolução de massa
Três resoluções fixas permitem separar interferências espectrais e confirmar resultados em matrizes complexas.
Análise direta do sólido
Reduz etapas de dissolução, diluição e infraestrutura de laboratório úmido para amostras compatíveis.
Limites de detecção sub-ppb
O catálogo posiciona limites robustos na faixa sub-ppb para aplicações adequadas e materiais de alta pureza.
Alta produtividade
Fonte fast-flow, troca rápida de amostra e tempos curtos de bombeamento permitem até cinco amostras por hora.
Análise integral e perfis de profundidade
A mesma arquitetura atende composição do material e investigação elementar em profundidade.
R 10.000Maior resolução fixa
13 ordensFaixa dinâmica linear
até 5/hProdutividade indicada
Do sólido ao resultado
Rotina direta para materiais de alta pureza
O fluxo reduz o preparo químico e conecta fonte, separação de alta resolução e detecção automática em uma análise multielementar.
01
Preparar a geometria
Amostras planas, pinos ou pós prensados são acomodados com a célula e o suporte adequados.
02
Pré-sputtering
O modo de alta potência remove a superfície inicial e estabiliza a região analisada.
03
Separar os íons
Setor magnético e analisador eletrostático trabalham nos modos R 300, 4.000 ou 10.000.
04
Quantificar
A detecção automática cobre matriz, menores, traços e ultratraços; o método pode usar RSFs padrão ou calibração.
Aplicações
Pureza e impurezas críticas em materiais tecnológicos
O ELEMENT GD Plus é voltado a sólidos em que pequenas concentrações afetam desempenho, segurança, fabricação ou certificação.
Aeroespacial
Superligas de níquel, elementos menores e traço, coatings e camadas de difusão.
Semicondutores
Wafers e pós de carbeto de silício, silício e materiais relacionados à fabricação eletrônica.
Microeletrônica
Cobre, alumina em pó, alvos de sputtering e materiais de alta pureza.
Energia renovável
Blocos de silício, wafers, células solares e controle de impurezas em matérias-primas.
Setor nuclear
Pureza de grafite e depth profiling para triagem e caracterização de sólidos.
Metais de baixo ponto de fusão
Fluxos dedicados para metais como índio e gálio, incluindo resfriamento Peltier opcional.
Metais de alta pureza
Determinação de contaminantes em metais, ligas e matérias-primas de pureza elevada.
Materiais avançados
Pesquisa, desenvolvimento, qualificação e investigação de falhas em sólidos tecnológicos.
Arquitetura e desempenho
Fonte Grimm, duplo setor e três detectores
A combinação prioriza transmissão iônica, estabilidade, separação de interferências e uma faixa dinâmica ampla em rotina.
Consultar catálogo completoFonte de íonsFonte tipo Grimm com fast-flow, modo pulsado, alta taxa de sputtering e cratera uniforme.
Resolução de massaModos fixos R = 300, 4.000 e 10.000; troca de resolução em menos de 1 s.
AnalisadoresSetor magnético e analisador eletrostático com óptica de transferência de íons.
DetecçãoMultiplicador de elétrons secundários em contagem e modo analógico, mais detector Faraday.
Faixa dinâmica13 ordens lineares, de menos de 0,2 cps a mais de 10¹² cps.
ProdutividadeAté 5 amostras/h; troca de amostra em menos de 1 min e turnaround de bombeamento abaixo de 10 min.
Formatos de amostraAmostras planas, pós prensados e pinos com suportes e células apropriados.
OpçõesResfriamento Peltier para gálio e opção CNO para limites sub-ppm de carbono, nitrogênio e oxigênio.
Dados resumidos do catálogo oficial Thermo Scientific. Limites de detecção, precisão e produtividade variam com elemento, matriz, geometria, método e configuração.
Enquadramento da solução
Antes de definir a configuração
A matriz, a geometria, a concentração esperada e o tipo de informação desejada determinam o método e os acessórios necessários.
Indicações técnicas
✓O sólido de alta pureza precisa ser analisado diretamente.
✓Elementos-traço e ultratraço são críticos para a qualidade.
✓Interferências exigem alta resolução de massa.
✓A aplicação pede análise bulk e/ou perfil elementar em profundidade.
A configuração deve considerar...
→Condutividade, forma, dimensões e disponibilidade de material.
→Elementos-alvo, pureza esperada e limites de detecção necessários.
→Uso de amostra plana, pino, pó prensado ou eletrodo secundário.
→Necessidade das opções CNO, resfriamento Peltier ou depth profiling avançado.
Material técnico
Catálogo do ELEMENT GD Plus
Arquivo oficial incorporado nesta página. O download funciona sem abrir servidores externos.
ELEMENT GD Plus · Glow Discharge Mass Spectrometer
Catálogo técnico oficial Thermo Scientific com fonte, analisadores, detectores, produtividade, desempenho e aplicações.
Perguntas frequentes
O essencial sobre o ELEMENT GD Plus
Informações para a avaliação inicial da aplicação.
O ELEMENT GD Plus exige dissolução da amostra?
Não para sólidos compatíveis. A análise é direta, reduzindo etapas de dissolução, diluição e o risco de contaminação associado ao preparo úmido.
Quais resoluções de massa estão disponíveis?
O sistema opera em três modos fixos: R = 300, 4.000 e 10.000, com troca de resolução em menos de um segundo.
Materiais não condutores podem ser analisados?
Muitos materiais não condutores podem ser analisados por técnicas de eletrodo secundário. A viabilidade depende da amostra, da geometria e do método.
Quais formatos de amostra são aceitos?
A célula pode trabalhar com amostras planas e, com suportes apropriados, pós prensados e pinos. A avaliação dimensional deve ser feita antes da configuração.
A análise é destrutiva?
Sim. O sputtering forma uma cratera localizada na região exposta à descarga.
Como são quantificados C, N e O em níveis baixos?
A opção CNO limpa o gás de descarga de entrada e foi desenvolvida para alcançar limites sub-ppm para carbono, nitrogênio e oxigênio em aplicações adequadas.
Defina a rota para pureza, traços e ultratraços no seu sólido.
Envie à SENS a matriz, o formato da amostra, os elementos críticos e os limites de detecção desejados.