Revestimentos
Galvanização, PVD, CVD, anodização, pintura e tratamentos.
Análise elementar rápida de sólidos, superfícies, filmes, revestimentos e perfis de profundidade por descarga luminescente pulsada RF.

O GD-Profiler 2 combina sputtering controlado e emissão óptica para medir composição da superfície ao volume, incluindo elementos leves e multicamadas.
A descarga remove sucessivas camadas do material. O espectrômetro acompanha a intensidade elementar ao longo do tempo e o interferômetro DIP auxilia a conversão em profundidade e taxa de erosão.
Galvanização, PVD, CVD, anodização, pintura e tratamentos.
Eletrodos, interfaces, fotovoltaicos e materiais funcionais.
Descarbonetação, nitretação, cementação, oxidação e controle de ligas.
Detecção de H, O, C, N e Cl em condições apropriadas.
Detectores de alta faixa dinâmica para sinal superficial e volume.
Software para aquisição, quantificação e perfil de profundidade.
Informações resumidas para triagem. A configuração final deve considerar matriz, método, faixa e produtividade.
Sim. O perfil pode relacionar composição e profundidade, desde que o método e a taxa de erosão sejam adequadamente estabelecidos.
Não. A análise é direta na superfície sólida compatível com a câmara de descarga.
É microdestrutivo: a descarga forma uma cratera na área analisada.
Informe a matriz, os analitos ou moléculas de interesse, a faixa esperada e o volume de amostras. A SENS especifica a configuração aplicável.